专题论坛三:半导体器件与芯片可靠性

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论坛简介

半导体器件与芯片的可靠性是半导体产业高质量发展的核心基石,不仅直接决定电子设备的运行稳定性、服役寿命与安全性能,更是航空航天、新能源、高端装备等关键领域核心器件国产化落地的重要前提。本论坛聚焦半导体器件与芯片可靠性领域的前沿难题与技术突破,围绕器件失效机理、先进可靠性测试技术、芯片设计可靠性优化、芯片制造工艺全过程可靠性控制等核心议题展开深入研讨,涵盖硅基、宽禁带半导体、新兴存储器件,以及车规、航天等极端环境应用可靠性技术。论坛立足产业实际需求,凝聚行业共识,着力破解器件与芯片在航空航天、新能源、高端制造等领域应用中的可靠性瓶颈,加速推动可靠性技术创新与成果转化,为下一代高性能半导体器件与芯片研发提供理论支撑与实践指引。

举办单位:
西安电子科技大学
论坛主席
郑雪峰

西安电子科技大学,二级教授,博士生导师,微电子学院院长兼集成电路学部副主任。国家级领军人才,兼任多个专业技术委员会委员。从事宽禁带与超宽禁带半导体器件、可靠性、空间辐射效应、热管理等领域的科学研究及人才培养。发表高水平学术论文100余篇,授权国际国内发明专利80余项,出版专著/译著2本,获国家科技进步一等奖2项、省部级一等奖5项。

赵丽霞

天津工业大学,二级教授,博士生导师,天津市电气装备智能控制重点实验室主任。教育部国家级重大人才工程入选者,中国电子学会可靠性分会等多个专业技术委员会委员。长期从事GaN基半导体及可靠性研究,在Nat Commun、 IEEE TED、Adv Mater、ACS Nano等发表学术论文160余篇,引用6000余次,获授权发明专利30项,牵头制定了1项国家标准和1项国际标准。

陈义强

工业和信息化部电子第五研究所,研究员,博士生导师,电子元器件可靠性技术全国重点实验室副主任。国家级领军人才,国务院政府特殊津贴专家,全国集成电路标委会电磁兼容工作组副组长。长期从事集成电路、功率器件、微波器件等高端芯片与系统可靠性基础理论、关键技术及应用研究。主持承担国家自然科学基金、国家重点研发计划、广东省重大专项等30余项。多次受邀在IEEE PHM等国际会议上做大会报告。获中国电子信息科技创新团队奖、省部级科技进步一等奖等共8项。

纪志罡

上海交通大学,教授,博士生导师。国家级领军人才,行业协会专家委员会委员,国家重点研发计划专家组专家,集成电路标准化技术委员会委员。长期从事集成电路可靠性领域研究,相关技术成果已成功实现产业转化,在国内外龙头企业得到应用,覆盖先进逻辑与存储工艺研发等关键方向。

召集人
张旭

中国科学院半导体研究所,研究员。主要从事高可靠性专用集成电路设计、封装与测试技术,以及新型半导体电力电子材料与器件的研究工作。近年来,主持国家自然科学基金项目、国家重点研发计划项目、中国科学院STS区域重点项目、北京市科委专项等科研任务。授权发明专利16项,发表SCI/EI论文100余篇。曾获第三届中国科技产业化促进会科学技术奖-科技产业化一等奖(排名第1)。

柴正

西安交通大学,教授。国家级青年人才项目入选者,华为“思源学者”,长期从事微电子器件可靠性、新型存储技术、新型计算范式等领域研究。主持国家自然科学基金项目,承担国家重点研发计划课题、鹏城国家实验室重大攻关项目课题等。在Nat Electron、Adv Mater、IEEE EDL(封面1篇)、IEEE TED和VLSI、IEDM、IRPS等期刊和会议上发表论文40余篇,申请发明专利20余项(已授权4项)。

马腾

工业和信息化部电子第五研究所,高级工程师。长期从事电子元器件辐射效应和失效机理研究。作为项目负责人先后主持国家自然科学基金、国家重点研发计划子课题、广东省自然科学基金面上项目等国家级/省部级课题10余项,以第一和通信作者身份在AFM、APL、IEEE EDL、IEEE TED等国际权威期刊上发表SCI/EI论文50余篇,获得国防科技进步二等奖1项。担任《质量与可靠性》、《微处理机》等期刊的编委,CSCIED科技核心评价数据库评委,以及APL、IEEE EDL等多个期刊审稿人。

吕玲

西安电子科技大学,副教授。长期从事宽禁带半导体器件辐射效应研究。先后主持或参与国家自然科学基金、省部级项目等十余项,相关研究成果在IEEE TED、IEEE TNS、Microelectron Reliab等国内外可靠性领域顶级期刊及会议上发表学术论文50余篇。

主题报告

报告题目:先进工艺器件BTI可靠性:从缺陷机理到跨层协同优化

纪志罡 教授 上海交通大学集成电路学院

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报告题目:面向特种装备的高效GaN功率变换技术:从深海到太空

张旭 研究员 中国科学院半导体研究所

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报告题目:《氮化镓增强型高压功率器件可靠性加固工艺与测试技术

黄火林 教授,博导 大连理工大学

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报告题目:《磁隧道结低温中间态的表征、区分与利用:从可靠性瓶颈到多态存储

柴正 教授,博导 西安交通大学

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报告题目:《从航空到深地:集成电路大气中子单粒子效应研究与应用

张战刚 正高级工程师 工业和信息化部电子第五研究所

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